拉曼光谱图怎么分析
拉曼光谱图分析:是基于印度科学家C.V.拉曼(Raman)所发现的拉曼散射效应,对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息,并应用于分子结构研究的一种分析方法。拉曼光谱(Raman spectra),是一种散射光谱。拉曼光谱分析法是基于印度科学家C.V.拉曼(Raman)所发现的拉曼散射效应,对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息,并应用于分子结构研究的一种分析方法。电化学原位拉曼光谱法的测量装置主要包括拉曼光谱仪和原位电化学拉曼池两个部分。拉曼光谱仪由激光源、收集系统、分光系统和检测系统构成, 光源一般采用能量集中、功率密度高的激光, 收集系统由透镜组构成, 分光系统采用光栅或陷波滤光片结合光栅以滤除瑞利散射和杂散光以及分光检测系统采用光电倍增管检测器、半导体阵检测器或多通道的电荷藕合器件。原位电化学拉曼池一般具有工作电极、辅助电极和参比电极以及通气装置。为了避免腐蚀性溶液和气体侵蚀仪器, 拉曼池必须配备光学窗口的密封体系。在实验条件允许的情况下, 为了尽量避免溶液信号的干扰, 应采用薄层溶液(电极与窗口间距为0.1~1mm) , 这对于显微拉曼系统很重要, 光学窗片或溶液层太厚会导致显微系统的光路改变, 使表面拉曼信号的收集效率降低。电极表面粗化的最常用方法是电化学氧化- 还原循环(Oxidation-Reduction Cycle,ORC)法, 一般可进行原位或非原位ORC处理。
拉曼光谱能分析出什么?
拉曼光谱能分析出材料的化学结构,它提供的信息包括:化学结构和化学鉴别;相和形态;应力;污染物和杂质。拉曼光谱对于分子键合以及样品的结构非常敏感,因而每种分子或样品都会有其特有的光谱“指纹”。这些“指纹”可以用来进行化学鉴别、形态与相、内压力/应力以及组成成份等方面的研究和分析。拉曼可测到最小波数可达多少?测试深度有多深?可测到最小波数可达10cm-1。拉曼是表面测试,探测深度只有10nm左右,光斑1um大小,样品均匀性对结果影响很大,如果测试出来结果没有出峰,说明在那个位置是没有该物质结构存在。薄膜样品如果膜层厚度小于这个,会出现基底峰。
怎么样用喇曼光谱鉴别物质分子的结构
喇曼效应的机制和荧光现象不同,并不吸收激发光,因此不能用实际的上能级来解释,玻恩和黄昆用虚的上能级概念说明了喇曼效应。下图是说明喇曼效应的一个 简化的能级图 。
设散射物分子原来处于基电子态,振动能级如图所示。当受到入射光照射时,激发光与此分子的作用引起的极化可以看作为虚的吸收,表述为电子跃迁到虚态(Virtual state),虚能级上的电子立即跃迁到下能级而发光,即为散射光。设仍回到初始的电子态,则有如图所示的三种情况。因而散射光中既有与入射光频率相同的谱线,也有与入射光频率不同的谱线,前者称为瑞利线,后者称为喇曼线。在喇曼线中,又把频率小于入射光频率的谱线称为斯托克斯线,而把频率大于入射光频率的谱线称为反斯托克斯线。
瑞利线与喇曼线的波数差称为喇曼位移,因此喇曼位移是分子振动能级的直接量度。下图给出的是一个 喇曼光谱的示意图 。
(from Larry G. Anderson, University of Colorado at Denver, US)
请注意:1). 在示意图中斯托克斯线和反斯托克斯线对称地分布于瑞利线的两侧,这是由于在上述两种情况下分别相应于得到或失去了一个振动量子的能量。2). 反斯托克斯线的强度远小于斯托克斯线的强度,这是由于Boltzmann分布,处于振动基态上的粒子数远大于处于振动激发态上的粒子数。实际上,反斯托克斯线与斯托克斯线的强度比满足公式:
其中n是激发光的频率,ni是振动频率,h是Planck常数,k是Boltzmann常数,T是绝对温度。
[喇曼光谱原理]
[四氯化碳的喇曼光谱图]
喇曼光谱与红外光谱
Raman散射与红外吸收方法机理不同,所遵守的选择定则也不同。两种方法可以相互补充,这样对分子的问题可以更周密的研究。下图是Nylon 66的Raman与 红外光谱图 。
喇曼光谱的实验装置
喇曼分光光度计有成套的设备,也可以分部件装配。下图为谱仪的 装置示意图 ,主要有激光光源,外光路系统及样品装置,单色仪和探测记录装置,现分述如下。
n 激光光源
n 外光路系统及样品装置
n 分光系统
n 探测,放大和记录系统
喇曼光谱实验中应注意的几个问题
在喇曼光谱实验中,为了得到高质量的谱图,除了选用性能优异的谱仪外,准确地使用光谱仪,控制和提高仪器分辨率和信噪比是很重要的。
n 狭缝
出射入射和中间狭缝是喇曼光谱仪的重要部分。入射、出射狭缝的主要功能是控制仪器分辨率,中间狭缝主要是用来抑制杂散光。对于一个光谱仪,即使用一绝对单色光照射狭缝,其出射光也总有一宽度为Δυ的光谱分布。这主要是由仪器光栅,光学系统的象差,零件加工及系统调整等因素造成的,并由此决定了仪器的极限分辨率。在实际测量中,随着狭缝宽度加大,分辨率还要线性下降,使谱线展宽。
n 孔径角的匹配
由于分辨率是光栅宽度的线性函数,如果收集光系统不能照明整个光栅,则仪器分辨率将会下降。自己组装光谱仪系统时更应注意这一点,要使收集散射光的立体角与单色仪的集光立体角相匹配。实际测量中也应注意把散射光正确地聚焦到入射狭缝上,否则不但降低了分辨率也影响了信号灵敏度。
n 激发功率
提高激发光强度或增加缝宽能够提高信噪比,但在进行低波数测量时这样做常常会因增加了杂散光而适得其反。一般应首先尽量降低杂散光,例如,适当减小狭缝宽度,保证仪器光路准直等;然后再考虑用重复扫描,增加取样时间或计算机累加平均等方法来消除激光器、光电倍增管及电子学系统带来的噪声。
n 激发波长
激光波长对杂散光及信噪比的影响十分显著,当狭缝宽度不变时,用氩激光514.5nm比用488.0nm波长激发样品,杂散光要小一到二个数量级(±100cm-1范围内),并且分辨率有所提高。这一方面是由于长波长激光对仪器内少量灰尘或试样中缺陷的散射弱;另一方面由于狭缝宽度一样时,不同波长的光由出射狭缝出射时所包含的谱带宽度不一样。所以一般用长波长的激光谱线作为激发光,对获得高质量的谱图有利。伴随喇曼光谱出现的光背景是一种难以克服的噪声来源。强的荧光谱带不单会淹没弱的喇曼信号,而且由于光电倍增管的发射噪声会随入射光的平方根增加,在非常强的荧光背景的情况下,将导致发射噪声的涨落,从而破坏了所要测量的光谱。降低荧光背景一般可采用纯化试样,长时间辐照试样,改变激发波长等方法。
产品参数、技术指标
[激光喇曼/荧光光谱仪]
天津市港东科技发展有限公司激光喇曼/荧光光谱仪
(LRS-III 配有进口的陷波滤波片)
产品参数、技术指标:
光栅: 1200L/mm
相对孔径: D/F=1/5.5
狭缝
宽度: 0-2mm连续可调
最大高度:20mm
示值精度:0.01mm
接收单元:单光子计数器
光源:半导体激光器,输出波长532nm,输出功率 ≥40mw
波长范围: 300-650nm
波长精度:≤ ±0.4nm
波长重复性:≤ ±0.2nm
杂散光:≤10-3
线色散倒数:2.7nm/mm
谱线半宽度:波长在589nm处,狭缝高3mm,宽0.2mm,谱线半宽度≤0.2nm
拉曼光谱的光谱分析
实验做出的谱图(见附图,以波长为单位)标准的谱图(如下,以波数为单位)通过的结构分析解释光谱:分子为四面体结构,一个碳原子在中心,四个氯原子在四面体的四个顶点。当四面体绕其自身的一轴旋转一定角度,或记性反演(r—-r)、或旋转加反演之后,分子的几何构形不变的操作称为对称操作,其旋转轴成为对称轴。CCI4有13个对称轴,有案可查4个对称操作。我们知道,N个原子构成的分子有(3N—6)个内部振动自由度。因此分子可以有9个(3×5—6)自由度,或称为9个独立的简正振动。根据分子的对称性,这9种简正振动可归纳成下列四类:第一类,只有一种振动方式,4个氯原子沿与C原子的联线方向作伸缩振动,记作v1,表示非简并振动。第二类,有两种振动方式,相邻两对CI原子在与C原子联线方向上,或在该联线垂直方向上同时作反向运动,记作v2,表示二重简并振动。第三类,有三种振动方式,4个CI与C原子作反向运动,记作v3,表示三重简并振动。第四类,有三种振动方式,相邻的一对CI原子作伸张运动,另一对作压缩运动,记作v4,表示另一种三重简并振动。上面所说的“简并”,是指在同一类振动中,虽然包含不同的振动方式但具有相同的能量,它们在拉曼光谱中对应同一条谱线。因此,分子振动拉曼光谱应有4个基本谱线,根据实验中测得各谱线的相对强度依次为v1>v2>v3>v4。苯的谱线也见附图,分析类似,这里不再赘述。